شراء Texas Instruments SN74ABT18640DGGR IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

جداول البيانات

SN74ABT18640DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

رقم القطعة

SN74ABT18640DGGR

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74ABT

حالة الجزء

Obsolete

التعبئة والتغليف

Tape & Reel (TR)

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

حزمة جهاز المورد

56-TSSOP

مصدر التيار

4.5 V ~ 5.5 V

عدد البتات

نوع المنطق

Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 41517 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC