شراء Texas Instruments SN74ABT8543DL IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

عرض المزيد من المعلومات جداول البيانات

SN74ABT8543DL

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP

رقم القطعة

SN74ABT8543DL

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74ABT

حالة الجزء

Active

التعبئة والتغليف

Tube

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

حزمة جهاز المورد

28-SSOP

مصدر التيار

4.5 V ~ 5.5 V

عدد البتات

نوع المنطق

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 43603 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC