شراء Texas Instruments SN74ABTH182502APM IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

عرض المزيد من المعلومات جداول البيانات

SN74ABTH182502APM

IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

رقم القطعة

SN74ABTH182502APM

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74ABTH

حالة الجزء

Active

التعبئة والتغليف

Tray

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

64-LQFP

حزمة جهاز المورد

64-LQFP (10x10)

عدد الدوائر

18-Bit

الجهد - العرض

4.5 V ~ 5.5 V

نوع المنطق

Scan Test Universal Bus Transceiver

الحالي - الناتج مرتفع ومنخفض

32mA, 64mA

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 41823 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC