شراء Texas Instruments SN74BCT8373ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

عرض المزيد من المعلومات جداول البيانات

SN74BCT8373ADWRE4

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

رقم القطعة

SN74BCT8373ADWRE4

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

74BCT

حالة الجزء

Obsolete

التعبئة والتغليف

Tape & Reel (TR)

درجة حرارة التشغيل

0°C ~ 70°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

حزمة جهاز المورد

24-SOIC

مصدر التيار

4.5 V ~ 5.5 V

عدد البتات

نوع المنطق

Scan Test Device with D-Type Latches

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 24773 PCS

معلومات الاتصال

منتجات ذات صله

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC