شراء Texas Instruments 8V182512IDGGREP IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

الصين
مورد المكونات الإلكترونية المهنية

الكتالوجات الشركات المصنعة رقائق CN

قد تكون الصورة تمثيلية.
راجع المواصفات للحصول على تفاصيل المنتج.

جداول البيانات

8V182512IDGGREP

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

رقم القطعة

8V182512IDGGREP

الشركة المصنعة/العلامة التجارية

Texas Instruments

مسلسل

حالة الجزء

Active

التعبئة والتغليف

Cut Tape (CT)

درجة حرارة التشغيل

-40°C ~ 85°C

نوع التركيب

Surface Mount

الحزمة / القضية

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

حزمة جهاز المورد

64-TSSOP

مصدر التيار

2.7 V ~ 3.6 V

عدد البتات

نوع المنطق

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

طلب اقتباس

يرجى إكمال جميع الحقول المطلوبة والنقر على "إرسال"، وسنتصل بك خلال 12 ساعة عبر البريد الإلكتروني. إذا كانت لديك أي مشكلة، فيرجى ترك رسائل أو إرسال بريد إلكتروني إلى [email protected]، سوف نقوم بالرد في أقرب وقت ممكن.

في الأوراق المالية 41584 PCS

معلومات الاتصال